HAST非飽和加速壽命試驗(yàn)箱特點(diǎn)：

自動(dòng)門禁，圓型門自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設(shè)計(jì)，箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)。

圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì)，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品。

實(shí)驗(yàn)開始前之真空動(dòng)作可將原來(lái)箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過(guò)濾蕊過(guò)濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度。

臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù)，異常原因與故障指示燈顯示。

精密設(shè)計(jì)，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h。

箱內(nèi)壓力愈大時(shí)，packing會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式不同，可延長(zhǎng)packing壽命。

圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì)。

hast非飽和加速試驗(yàn)箱適用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

JESD22-A102 無(wú)偏壓高壓蒸煮試驗(yàn) 封裝IC（芯片）

JESD22-A110-E 高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)（有偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

JESD22-A103-E 高溫貯存壽命試驗(yàn)

IEC61215-10.13 晶體硅光伏組件溫箱試驗(yàn)-濕熱試驗(yàn) 太陽(yáng)能光伏組件 減少試驗(yàn)時(shí)間

在當(dāng)今的高科技世界里，半導(dǎo)體器件的性能和可靠性對(duì)于各種電子設(shè)備的質(zhì)量和安全性至關(guān)重要。然而，這些器件可能會(huì)受到環(huán)境條件的影響，特別是濕度和溫度，從而可能導(dǎo)致故障或性能下降。為了確保半導(dǎo)體器件的可靠性和持久性，HAST加速抗?jié)駶B透老化箱已成為一種重要的測(cè)試工具。

HAST加速抗?jié)駶B透老化箱，也稱為高壓加速壽命試驗(yàn)（High-Altitude Simulation Test）設(shè)備，主要用于測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力。這種設(shè)備模擬了惡劣的環(huán)境條件，包括高溫、高壓和高度真空，以加速水分通過(guò)外部保護(hù)材料或密封劑或外部材料和導(dǎo)體之間的滲透。這種測(cè)試方法有助于評(píng)估和預(yù)測(cè)半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用環(huán)境中的性能和可靠性。

HAST老化箱的運(yùn)作原理主要是通過(guò)在設(shè)定的溫度和濕度條件下連續(xù)施加壓力來(lái)實(shí)現(xiàn)的。這種壓力模擬了外部環(huán)境條件，如高度和濕度，對(duì)半導(dǎo)體器件的影響。同時(shí)，這種設(shè)備還配備了各種傳感器和監(jiān)控設(shè)備，以監(jiān)測(cè)測(cè)試過(guò)程中的各種參數(shù)，如溫度、濕度和壓力。

HAST加速抗?jié)裥詽B透老化箱的設(shè)計(jì)和結(jié)構(gòu)通常包括一個(gè)密封的測(cè)試腔體、加熱和冷卻系統(tǒng)、高壓泵以及控制系統(tǒng)。測(cè)試腔體提供了測(cè)試器件的理想環(huán)境，加熱和冷卻系統(tǒng)能夠精確控制測(cè)試溫度，高壓泵用于產(chǎn)生高壓環(huán)境，而控制系統(tǒng)則負(fù)責(zé)整個(gè)設(shè)備的操作和監(jiān)控。

使用HAST老化箱進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程通常包括以下幾個(gè)步驟：將被測(cè)器件放入測(cè)試腔中，設(shè)置測(cè)試參數(shù)，如溫度、濕度和壓力，然后啟動(dòng)設(shè)備開始測(cè)試。在測(cè)試過(guò)程中，設(shè)備會(huì)持續(xù)監(jiān)測(cè)各種參數(shù)，如濕度、溫度和壓力的變化，以及被測(cè)器件的性能表現(xiàn)。測(cè)試完成后，分析測(cè)試數(shù)據(jù)并得出結(jié)論。

HAST加速抗?jié)裥詽B透老化箱對(duì)于評(píng)估半導(dǎo)體器件的可靠性和耐久性具有重要作用。通過(guò)模擬惡劣的環(huán)境條件，這種設(shè)備能夠快速檢測(cè)出潛在的問(wèn)題和故障，從而確保了半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用中的性能和安全性。此外，由于其采用的高壓加速方法，使得測(cè)試過(guò)程比傳統(tǒng)的老化測(cè)試更快，從而大大提高了測(cè)試效率。