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描述:國際通用冷熱循環(huán)沖擊試驗箱(Temperature Cycling or Thermal Shock Test Chamber)是用于測試和驗證電子、機械及其他材料和設(shè)備在高低溫快速交替變化下的可靠性和耐久性的設(shè)備。它模擬產(chǎn)品在實際使用環(huán)境中可能遇到的溫度波動,通過溫度變化對產(chǎn)品進行沖擊,以觀察其是否能夠在這些條件下保持穩(wěn)定的性能。此類試驗箱廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車、電子產(chǎn)品、通訊設(shè)備等領(lǐng)
品牌 | DEXIANG/德祥 | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 |
(一)、箱體構(gòu)造:
2.1.1. 內(nèi)箱材料:采用1.2mm厚SUS304#不銹鋼經(jīng)過高精度數(shù)控設(shè)備切割加工后彎折成型,接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理,精美大方。
2.1.2. 外箱材料:采用1.2mm厚冷軋鋼板經(jīng)過高精度數(shù)控設(shè)備切割加工后彎折成型,接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理后高溫噴粉烤漆處理表面,有效防止生銹,外觀烤漆處理。
2.1.3. 保溫材料:采用耐高溫玻璃纖維棉+聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡膠制作而成混合保溫層,保溫效果明顯。
2.1.4. 斷熱層:高溫區(qū)與低溫區(qū)間采用加厚保溫層斷熱,吊籃移動孔連接板采用環(huán)氧樹脂板斷熱。
國際通用冷熱循環(huán)沖擊試驗箱(Temperature Cycling or Thermal Shock Test Chamber)是用于測試和驗證電子、機械及其他材料和設(shè)備在高低溫快速交替變化下的可靠性和耐久性的設(shè)備。它模擬產(chǎn)品在實際使用環(huán)境中可能遇到的溫度波動,通過溫度變化對產(chǎn)品進行沖擊,以觀察其是否能夠在這些條件下保持穩(wěn)定的性能。此類試驗箱廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車、電子產(chǎn)品、通訊設(shè)備等領(lǐng)域。
廣泛的溫度范圍
國際通用冷熱循環(huán)沖擊試驗箱通常支持非常寬的溫度范圍。常見的溫度范圍從-70°C到+150°C,部分設(shè)備能夠覆蓋-100°C到+200°C。通過快速切換高低溫,模擬產(chǎn)品在實際使用中可能面臨的環(huán)境。
快速溫度變化速率
高效的冷熱循環(huán)試驗箱應(yīng)具備快速的溫度變化速率。典型的速率在5°C/min到15°C/min之間,某些高級型號可以達到更快的變化速率,達到20°C/min甚至更高。溫度變化速率的快慢決定了測試的真實性和產(chǎn)品的可靠性。
溫度控制和均勻性
冷熱循環(huán)試驗箱需要保證溫度的均勻分布和精確控制。大多數(shù)試驗箱都要求溫度波動范圍控制在±0.5°C以內(nèi),以確保每次循環(huán)過程中樣品受到均勻的溫度變化。
穩(wěn)定的冷卻和加熱系統(tǒng)
高效的冷卻和加熱系統(tǒng)是確保試驗箱能夠快速響應(yīng)并穩(wěn)定工作的重要保障。常見的冷卻方式包括壓縮機冷卻、液氮冷卻和半導(dǎo)體制冷。加熱則通常依靠電加熱器或熱風循環(huán)系統(tǒng)。
樣品放置空間
冷熱循環(huán)試驗箱的樣品放置空間大小不同,常見的有100L、200L、500L、1000L等型號,具體選擇依據(jù)測試樣品的體積和數(shù)量。
智能控制系統(tǒng)
現(xiàn)代的冷熱循環(huán)試驗箱通常配備PLC(可編程邏輯控制器)和觸摸屏控制界面,方便用戶設(shè)置溫度、時間、循環(huán)次數(shù)等參數(shù),并能實時顯示當前測試狀態(tài)和記錄數(shù)據(jù)。
自動數(shù)據(jù)記錄和報警系統(tǒng)
設(shè)備通常配備數(shù)據(jù)記錄和報警功能,能夠?qū)崟r記錄測試過程中的溫度變化,提供詳細的測試報告,并在出現(xiàn)異常時進行報警,確保測試過程中的數(shù)據(jù)可靠性和安全性。
根據(jù)不同的行業(yè)需求,冷熱循環(huán)沖擊試驗箱的設(shè)計和應(yīng)用有所不同。以下是一些常見的國際標準和它們適用的行業(yè):
IEC 60068-2-14
國際電工委員會(IEC)的60068-2-14標準規(guī)定了產(chǎn)品和元器件在冷熱循環(huán)條件下的測試方法。該標準主要用于電子、家電、通訊設(shè)備等領(lǐng)域的環(huán)境測試。
測試范圍: -40°C 至 +100°C,具體范圍可根據(jù)產(chǎn)品需求定制。
溫度變化速率: 通常為5°C/min至10°C/min。
MIL-STD-810G
美國JUN事標準MIL-STD-810G中的第503.5條對冷熱沖擊測試有詳細規(guī)定,適用于JUN用設(shè)備、通信設(shè)備、航空航天等領(lǐng)域。
測試范圍: -65°C 至 +85°C。
溫度變化速率: 不同測試程序可能有不同要求,通常為1°C/min至5°C/min。
JEDEC JESD22-A104
該標準由JEDEC(半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會)發(fā)布,專注于半導(dǎo)體和電子元器件的溫度沖擊測試。
測試范圍: -55°C 至 +125°C。
主要用于驗證半導(dǎo)體元器件在冷熱循環(huán)中的性能穩(wěn)定性。
ISO 16750-4
ISO 16750系列是針對汽車電子設(shè)備環(huán)境測試的國際標準,第4部分涉及溫度循環(huán)測試。
測試范圍: 通常為-40°C 至 +85°C,適用于車載電子設(shè)備。
測試目的是: 檢查電子設(shè)備在冷熱沖擊環(huán)境下的耐久性和穩(wěn)定性。
航空航天標準(如AS8189)
適用于航空航天領(lǐng)域的設(shè)備,如航天器、航空器等。
測試范圍: -55°C 至 +125°C。
需要確保設(shè)備在太空、高空和惡劣溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性。
溫度范圍:一般為-70°C 至 +150°C,高配型號可達到-100°C 至 +200°C。
溫度變化速率:5°C/min至20°C/min,部分設(shè)備可實現(xiàn)更高速率。
試驗箱體積:100L、200L、500L、1000L等,選擇根據(jù)樣品尺寸。
溫控精度:±0.5°C或更高。
控制方式:PLC控制系統(tǒng),觸摸屏顯示,遠程監(jiān)控。
加熱方式:電加熱器、熱風循環(huán)。
冷卻方式:壓縮機冷卻、液氮冷卻、半導(dǎo)體制冷等。
符合行業(yè)標準:選擇符合國際標準(如IEC、MIL-STD、JEDEC等)的試驗箱,以確保測試結(jié)果的準確性和行業(yè)的認可。
試驗需求匹配:根據(jù)產(chǎn)品特性、測試需求和預(yù)算,選擇適合的溫度范圍、溫度變化速率和箱體大小。
操作與維護便利性:選擇具備智能化控制系統(tǒng)、數(shù)據(jù)記錄和遠程監(jiān)控功能的設(shè)備,以提升測試效率和方便數(shù)據(jù)分析。
品牌和質(zhì)量:選擇品牌的試驗設(shè)備,確保設(shè)備的穩(wěn)定性、可靠性和售后服務(wù)。
國際通用冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是評估產(chǎn)品在高低溫環(huán)境快速變化條件下的耐用性和可靠性的重要工具。通過模擬實際使用中的溫度波動,試驗箱幫助制造商優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計、提高產(chǎn)品質(zhì)量,并確保產(chǎn)品在各種環(huán)境下能夠穩(wěn)定運行。選擇符合行業(yè)標準的設(shè)備,并根據(jù)具體需求選擇合適的測試參數(shù),能夠確保測試結(jié)果的有效性。
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