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半導(dǎo)體器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱

描述:半導(dǎo)體器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱(也稱為溫度沖擊試驗(yàn)箱)是一種用于測(cè)試半導(dǎo)體器件在惡劣溫度變化下性能穩(wěn)定性的設(shè)備。它模擬器件在實(shí)際使用環(huán)境中可能遇到的溫度驟變情況,測(cè)試器件的耐溫性和可靠性。具體來(lái)說(shuō),試驗(yàn)箱可以迅速將溫度從高溫轉(zhuǎn)變到低溫,或者從低溫轉(zhuǎn)變到高溫,以測(cè)試半導(dǎo)體器件在這種沖擊環(huán)境下是否會(huì)出現(xiàn)故障或性能退化。

  • 產(chǎn)品型號(hào):DR-H203-1B
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-12-10
  • 訪問(wèn)量:57
產(chǎn)品介紹/ PRODUCT PRESENTATION
品牌DEXIANG/德祥價(jià)格區(qū)間5萬(wàn)-10萬(wàn)
產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域能源,電子,航天,汽車,電氣

半導(dǎo)體器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱

半導(dǎo)體器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱



半導(dǎo)體器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱

(一)、箱體構(gòu)造:

2.1.1. 內(nèi)箱材料:采用1.2mm厚SUS304#不銹鋼經(jīng)過(guò)高精度數(shù)控設(shè)備切割加工后彎折成型,接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理,精美大方。

2.1.2. 外箱材料:采用1.2mm厚冷軋鋼板經(jīng)過(guò)高精度數(shù)控設(shè)備切割加工后彎折成型,接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理后高溫噴粉烤漆處理表面,有效防止生銹,外觀烤漆處理。

2.1.3. 保溫材料:采用耐高溫玻璃纖維棉+聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡膠制作而成混合保溫層,保溫效果明顯。

2.1.4. 斷熱層:高溫區(qū)與低溫區(qū)間采用加厚保溫層斷熱,吊籃移動(dòng)孔連接板采用環(huán)氧樹(shù)脂板斷熱。

半導(dǎo)體器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱半導(dǎo)體器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱

半導(dǎo)體器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱(也稱為溫度沖擊試驗(yàn)箱)是一種用于測(cè)試半導(dǎo)體器件在惡劣溫度變化下性能穩(wěn)定性的設(shè)備。它模擬器件在實(shí)際使用環(huán)境中可能遇到的溫度驟變情況,測(cè)試器件的耐溫性和可靠性。具體來(lái)說(shuō),試驗(yàn)箱可以迅速將溫度從高溫轉(zhuǎn)變到低溫,或者從低溫轉(zhuǎn)變到高溫,以測(cè)試半導(dǎo)體器件在這種沖擊環(huán)境下是否會(huì)出現(xiàn)故障或性能退化。

主要特點(diǎn):

  1. 溫度范圍廣:通常支持-60℃到+150℃甚至更寬的溫度范圍,以確保能夠模擬各種惡劣環(huán)境。

  2. 溫度變化速度快:高低溫沖擊試驗(yàn)要求試驗(yàn)箱具有較高的溫度變化速率,能夠迅速改變溫度,實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊。

  3. 快速切換:可以實(shí)現(xiàn)從高溫到低溫或從低溫到高溫的快速切換,以模擬實(shí)際應(yīng)用中的溫度沖擊。

  4. 精確的溫控系統(tǒng):溫度變化控制精準(zhǔn),通常試驗(yàn)箱配備高精度的溫控系統(tǒng)和傳感器,確保溫度變化的一致性和準(zhǔn)確性。

  5. 測(cè)試時(shí)間設(shè)定靈活:用戶可以根據(jù)需要設(shè)定高低溫沖擊的時(shí)間、頻率和溫度變化范圍,以滿足不同的試驗(yàn)要求。

  6. 穩(wěn)定性與可靠性:能夠保證長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行,適用于各種半導(dǎo)體元器件、電子元器件等的可靠性測(cè)試。

適用領(lǐng)域:

  • 半導(dǎo)體器件:如集成電路、傳感器、LED等。

  • 電子元器件:如電容、電阻、晶體管等。

  • 汽車電子:在汽車中使用的半導(dǎo)體器件。

  • 航空航天:航天器中的電子設(shè)備和組件。

  • 消費(fèi)電子:智能手機(jī)、電腦等中的半導(dǎo)體組件。

高低溫沖擊試驗(yàn)的目的:

  • 檢測(cè)材料的熱應(yīng)力反應(yīng):高低溫沖擊試驗(yàn)可以幫助評(píng)估半導(dǎo)體器件在溫度快速變化時(shí)是否會(huì)因熱膨脹系數(shù)不同而出現(xiàn)裂紋、破損等現(xiàn)象。

  • 評(píng)估長(zhǎng)期可靠性:通過(guò)模擬惡劣溫度變化,測(cè)試器件在長(zhǎng)期工作中的穩(wěn)定性。

  • 發(fā)現(xiàn)潛在缺陷:高低溫沖擊有助于提前發(fā)現(xiàn)半導(dǎo)體器件在實(shí)際使用中可能面臨的性能退化或故障問(wèn)題。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):

高低溫沖擊試驗(yàn)通常遵循一些國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),如:

  • JESD22-A104(用于半導(dǎo)體器件的環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn))

  • IEC 60068-2-14(環(huán)境測(cè)試的溫度沖擊標(biāo)準(zhǔn))

結(jié)論:

半導(dǎo)體器件高低溫沖擊試驗(yàn)箱是一種非常重要的測(cè)試設(shè)備,能夠有效評(píng)估半導(dǎo)體器件在惡劣溫度變化下的性能與可靠性。對(duì)于保證電子產(chǎn)品的質(zhì)量、穩(wěn)定性和長(zhǎng)期使用壽命至關(guān)重要。


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